Hello,
 
J'ai cherché sur le net une évolution de paramètres dans un IC en fonction de la température, qui ne soit pas monotone.
Je parle autant de la consommation, de phénomènes de leakage, de paramètres analogiques (performance d'un ADC par exemple).
 
L'idée est de définir un besoin de test à des températures autre que min et max et de démontrer qu'à des températures intermédiaires ces paramètres sortent des bornes min / max.
 
Je ne sais pas si c'est très clair mais par exemple cela pourrait être:  
 
Jitter d'une PLL:
-40°C: 800 ps  
125°C: 1200 ps
80°C: 1300 ps => on voit bien que si on ne fait pas de mesure à cette température on n'est pas dans un pire cas...
 
Je ne retrouve plus le papelard mais de mémoire plus on avance dans la finesse de gravure et plus ces phénomènes de fenêtre de température sont importants.
 
Merci d'avance pour votre aide!

Allez un connaisseur dans l'assemblée ?

Up!